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描述：步入式恒溫恒濕試驗室是一款人工仿真環(huán)境試驗箱，可模擬高溫環(huán)境、低溫環(huán)境、高低溫交變環(huán)境、干冷環(huán)境、濕熱環(huán)境等。廣泛適用于航天工業(yè)，PCB基板，電子芯片IC，半導體陶瓷及高分子材料之物理性變化的理想測試工具；電子電器零組件，金屬，化學材料，自動化零部件，通訊組件，國防工業(yè)，之物理性變化的理想測試工具。
產品型號：DR-H202廠商性質：生產廠家更新時間：2024-11-16訪問量：686
產品介紹/ PRODUCT PRESENTATION| 品牌 | 德祥儀器 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 能源,電子,航天,汽車,電氣 |
一、產品用途：
步入式恒溫恒濕試驗室是高低溫環(huán)境下，檢驗電子產品、材料、電工、儀器儀表的各種性能指針。隨著現代工業(yè)技術的迅速發(fā)展，電子電工產品的應用領域日益廣闊，所經受的環(huán)境條件也越來越復雜多樣。只有合理地規(guī)定產品的環(huán)境條件，正確的選擇產品的環(huán)境保護措施，才能保證產品在儲存運輸中免遭損壞，在使用過程中安全可靠。因此，對電子電工產品進行人工仿真環(huán)境試驗是保證其在生產、運輸、使用等各個環(huán)節(jié)中都安全可靠。出廠前對電子電工產品進行人工仿真環(huán)境試驗是保證質量所不可少的重要環(huán)節(jié)，因此環(huán)境試驗條件、試驗方法、試驗設備是否符合標準關系重大。
二、符合標準：
1.GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
2. GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
3. GJB150.3A－2009高溫試驗方法
4. GJB150.4A－2009低溫試驗方法
5.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件
6.GB/T2423.3-2008(IEC68-2-3)試驗Ca:恒定濕熱試驗方法
7.GJB150.9A-2009濕熱試驗方法
8.G/BT 2423.4-2008/IEC6008-2-30:2005試驗Db:交變濕熱方法
9.GB/T5170.18-2005電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗設備
10.GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術條件
產品名稱：步入式恒溫恒濕試驗室
型號：DR-H202
內尺寸：4m3、8m3、10m3、15m3、20m3、25m3、30m3、40m3（其他尺寸可定制）
溫度范圍T:-20、F:-40、S:-70～80℃/150℃
試樣限制本試驗設備禁止易燃、易爆、易揮發(fā)性物質試樣的試驗；儲存腐蝕性物質試樣的試驗、儲存生物的試驗、儲存強電磁發(fā)射源試樣的試驗及儲存
供電條件和電源
3￠380VAC±10%,50Hz 三相四線制N +保護接地
電壓允許波動范圍：10%
保護地線接地電阻小于4Ω
要求用戶在安裝現場為設備配置相應容量的空氣或動力開關，并且此開關必須獨立控制本設備使用
功能要求1.（空氣）室內空間制冷、加熱、加濕、除濕；
2.根據溫度、濕度設定，室內空間達到設定溫度、濕度
測試環(huán)境條件環(huán)境溫度為+25℃、相對濕度≤85%、試驗箱內無試樣條件下測得的數值。
溫濕度范圍：
濕度范圍濕度范圍：20～98%HR
控制精度溫度分辨率：0.01℃
濕度分辨率：0.1%RH
溫度偏差： ±1.5℃
濕度偏差： ±2%RH
溫度均勻度：≤2℃
濕度均勻度：≤3%RH
溫度波動度：±0.5℃
濕度波動度：± 2%RH
升降溫速率 （空載）+25℃→+80℃≤35 min +25℃→-40℃ ≤60 min
注：以上性能指標是在環(huán)境溫度為+25℃，水溫在28度，相對濕度≤85％、無試樣條件下測得的數值。
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