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描述：hast高加速試驗箱（Highly Accelerated Stress Test）是一種用于進行電子元器件可靠性測試的設備，主要用于模擬高溫高濕條件下的加速老化環(huán)境，以評估元器件在惡劣條件下的可靠性和耐性。HAST高加速試驗箱通過提供高溫高濕環(huán)境以及一定的電氣應力，加速電子元器件的老化過程。它采用高壓飽和蒸汽的方式，將樣品暴露在高溫高濕條件下，并施加一定的電壓或電流，以模擬真實環(huán)境中的潮濕條件
產品型號：DX-HAST350C廠商性質：生產廠家更新時間：2024-11-19訪問量：626
產品介紹/ PRODUCT PRESENTATION| 品牌 | 德祥儀器 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,電子,冶金,電氣,綜合 | 溫度范圍 | +100℃～+147℃ |
| 濕度范圍 | 70%~100% | 濕度控制穩(wěn)定度? | ±3%RH |
| 使用壓力? | 1.2~2.89kg(含1atm) | 壓力波動均勻度? | ±0.1Kg |
hast高壓加速老化試驗箱設備特點：
1)采用進口耐高溫電磁閥雙路結構，降低了使用故障率。
2)獨立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產品，以免造成產品局部破壞。
3)門鎖省力結構，解決第一代產品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。
4)試驗前排冷空氣；試驗中排冷空氣設計(試驗桶內空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.
5)超長效實驗運轉時間，長時間實驗機臺運轉400小時.
6)水位保護，透過試驗室內水位Sensor檢知保護.
7)tank耐壓設計，箱體耐壓力(150℃)2.65kg，符合水壓測試6kg.
8)二段式壓力安全保護裝置，采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置.
9)安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕 .
10)偏壓測試端子耐壓可達3000V(選配）
11)USB導出歷史記錄數據，曲線.
hast高加速試驗箱（Highly Accelerated Stress Test）是一種用于進行電子元器件可靠性測試的設備，主要用于模擬高溫高濕條件下的加速老化環(huán)境，以評估元器件在惡劣條件下的可靠性和耐性。
hast高加速試驗箱通過提供高溫高濕環(huán)境以及一定的電氣應力，加速電子元器件的老化過程。它采用高壓飽和蒸汽的方式，將樣品暴露在高溫高濕條件下，并施加一定的電壓或電流，以模擬真實環(huán)境中的潮濕條件和電氣應力。
在HAST高加速試驗中，樣品通常被放置在密封的試驗室中，試驗箱具備溫度、濕度和壓力等參數的控制功能。通過加速老化過程，可以更快地觀察到可能出現(xiàn)的故障和退化現(xiàn)象，以便制造商及早發(fā)現(xiàn)并改進產品設計和生產工藝。
HAST高加速試驗箱廣泛應用于電子元器件、半導體芯片、集成電路等領域的可靠性測試中。通過該設備，可以評估產品在惡劣環(huán)境下的性能和壽命特性，從而提高產品質量、可靠性和穩(wěn)定性，滿足市場需求和用戶期望。
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